白度測定儀

主要用途 
白度測定儀 BD-07適用于非彩色表面平整的物體或粉末的白度測量，可以準確地測出與視感度相*的白度值。 
功能特點 
★測定ISO白度（ISO Brightness，即R457白度),對熒光增白的試樣,還可以測定其中熒光物質發射產生的熒光增白度。 
★測定明度刺激值Y10。  
★測定不透明度（Opacity）。  
★測定透明度。  
★測定光散射系數和吸收系數。  
★測定油墨吸收值。  

適用范圍  
油漆涂料 用于測試油漆、涂料、油墨等的白度和吸收值。  
紙張    檢測紙張的熒光白度。  
鍍鋁    可以測試鋁箔的透明度、不透明度、白度。  
塑料    用于塑料、粉末的白度測量。  

★符合GB3978-83：標準照明體和照明觀測條件  
★D65照明體照明  
 采用d/o照明觀測幾何條件（ISO2469）  
★測試孔直徑有φ30mm和φ19mm兩種，設有光吸收器，消除了試樣鏡 面反射光的影響  
★R457白度光學系統的光譜功率分布的峰值波長457nm，半高寬44nm  
★RY光學系統符合GB3979-83：物體色測量方法  
  技術指標  
零點漂移       ≤0.1  
示值漂移       ≤0.1  
示值誤差       ≤0.5  
重復性誤差     ≤0.1  
鏡面反射誤差   ≤0.1  
外形尺寸     365mm×265mm×390mm（長寬高）  
重量          11Kg  
環境要求  
環境溫度   15～40℃  
相對濕度   不過85%  
工作電源    220V 50Hz   
標     準  
GB7973、GB7974、ISO 2470、GB 13025.2、GB 8940.2、GB 1840、GB 2913、GB 1543-88、ISO 2471、GB10339-89、GB T/5950  

配     置  
標準配置:主機、白板、黑筒 

產品名稱：數碼控制聲波清洗機 單通道聲波清洗機 產品型號： TD-2013D

數碼控制聲波清洗機  單通道聲波清洗機 型號：TD-2013D

產品信息 
聲波清洗機采用聲波清洗的原理，可以達到物件全面潔凈的清洗效果，特別對深孔，盲孔，凹凸槽清洗是的設備，不影響任何物件的材質及精度。其清洗速度及效果比傳統清洗方法可提高幾倍，甚至幾十倍。同時在生化、物理、化學、醫學、科研及大專院校的實驗中可作提取、脫氣、混勻、細胞粉碎、納米分解之用。 
產品介紹 
1、清洗槽采用不銹鋼SUS304一次沖壓成型，無焊接處，防水性能好。 
2、清洗籃采用不銹鋼SUS304網篩氬焊成型，提高清洗效果。 
3、清洗機外殼采用優質不銹鋼壓花板制作，美觀大方。 
4、工作時間數碼控制，LED數字顯示，1-99分鐘任意可調，滿足不同清洗需求。 
5、清洗溫度在0-80℃范圍內任意可調。 
6、清洗器的每個聲換能器發射功率為50瓦。 
7、6升及以上配有排水閥，人性化設計，快捷排出清洗廢水。 
8、采用優質進口核心部件，聲波功率轉換效率高，功率強勁，清洗效果好。 
9、*散熱系統，元器件工作更穩定。 
10、陶瓷加熱，加熱效果好。 
11、PCB板防潮、防腐蝕處理 
產品參數 

容    量：13L 
內槽尺寸：330*300*150mm 
外形尺寸：360*330*310mm 
聲功率：300W 
加熱功率：500W 
聲頻率：40KHz 
工作時間：1-99分鐘可調，LED倒計時顯示精確到秒 
清洗溫度：0-80℃可調 
適用行業：  
1、機械行業：防銹油脂的去除，機械零部件的除油除銹，發動機、化油器及汽車零件的清洗，過濾器、濾網的疏通清洗等。  
2、表面處理行業：電鍍前的除油除銹，離子鍍前清洗、磷化處理，清除積炭，清除氧化皮，清除拋光膏，金屬工件表面活化處理等。  
3、儀器儀表行業：量具的清洗，精密零件裝配前的高清潔度清洗等。  
4、電子行業：印刷線路板除松香、焊斑；高壓觸點等機械電子零件的清洗等。  
5、醫療行業：醫療器械的清洗、消毒、殺菌，實驗器皿的清洗等。  
6、半導體行業：半導體晶片的高清潔度清洗。  
7、鐘表、飾行業：清除油泥、灰塵、氧化層，拋光膏等。  
8、化學、生物行業：實驗器皿的清洗、除垢。  
9、光學行業：光學器件、眼鏡的除油、除汗，清灰等。  
10、紡織印染行業：清洗紡織錠子、噴絲板等。  
11、石油化工行業：金屬濾網的清洗疏通、化工容器、交換器的清洗等。  
詳細 

產品名稱：單目生物顯微鏡 生物顯微鏡 產品型號： XSP-1CA

單目生物顯微鏡 生物顯微鏡型號：XSP-1CA  
具有功能齊全,成像清晰,性價比高等優點。適合于小型醫院做人體三大常規化驗以及農、林、漁養殖業等小型單位做分析化驗。總放大倍數：40-1600X  
一、功能與特點：  
1、傳統機型，質量穩定，性價比高。  
2、采用可升降阿貝聚光鏡，聚光調節范圍大，襯度好。  
3、采用行星式同軸粗微動調焦裝置，調焦舒適平穩。  
4、采用帶有刻度標尺的雙層機械載物臺，同軸縱橫向調節手輪，操作更靈便。  
鏡筒：單目   
聚光鏡和光欄：阿貝聚光鏡可變光欄和濾色片   
目鏡：惠更斯目鏡H5X，H10X，H16X   
消色差物鏡：10X，40X(S)，100X(S)，   
照明：鹵素燈6V/20W   
電源：自然光源

產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V 產品名稱：光耦參數測試儀 產品型號：JFY3010A 光耦參數測試儀型號：JFY3010A JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹  ※概述:  JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。  ※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦  ※             測量參數: 參數指標表: 參數項 測試參數 測試條件設置 輸入正向壓降(VF) 0-2.000V 0-400MA 耐壓(BVCEO) 0-1200V 0-2.000MA 傳輸比(CTR) 0-3000 VCE:0-20V IC:0-2.000A 飽和壓降(Vsat) 0-2.000V IF:0-400MA IC:0-2.00A 輸出漏電流(Iceo) 0-1mA VCE=20V 輸入反向漏電流(IR) 0-1mA VR=4V