數(shù)字式四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： SZT-I 停產(chǎn)

數(shù)字式四探針測(cè)試儀型號(hào)：SZT-I
SZT-I型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理 的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測(cè)量。此外，探針經(jīng)過(guò)特殊加工后，還可以測(cè)量薄膜材料電阻率。廣泛適用于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院校化學(xué)物理系、科研單位，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。 
本儀器測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準(zhǔn)確，游移率小，使用壽命長(zhǎng)。 
技術(shù)參數(shù)： 
1． 測(cè)量范圍： 
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm 
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□ 
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω 
導(dǎo)電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm 
2． 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑：φ15~100 mm 
長(zhǎng)度：≤400mm 
3． 測(cè)量方法： 
軸向、斷面均可 
4． 顯示方式：31/2,數(shù)顯,性、過(guò)載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。 
5． 恒流源： 
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。 
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA 
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±2個(gè)字 
6.四探針測(cè)試探頭 
(1) 探針間距:1mm 
(2) 材料:碳化鎢.探針機(jī)械游移率:±1.0% 
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W